1、本儀器采用集成電路、晶體管電路，體積小、重量輕、攜帶方便。 2、配有雙簇曲線顯示電路，對(duì)于中小功率晶體管各種參數(shù)的配對(duì)和比較尤為方便，由于在電路中采用了電子開(kāi)關(guān)與左右兩管分別顯示的特點(diǎn)，使儀器既能達(dá)到測(cè)試可靠又能獲得觀察清晰的效果。 3、配有極性轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)，可根據(jù)被測(cè)半導(dǎo)體器件的需要，將NPN與PNP晶體管的特性曲線轉(zhuǎn)換成同類型的顯示方式。 4、本儀器專為工作于小電流超β晶體管測(cè)試作了提高，最小階梯電流可達(dá)0.2uA/極。 5、本儀器還專為測(cè)試二極管的反向漏電流采取了適當(dāng)?shù)拇胧?，使測(cè)試的IR達(dá)20nA/DIV。
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集電極電流范圍(X軸) |
0.05V/div～500V/div分13檔，誤差不超過(guò)±3% |
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基極電壓范圍(X軸) |
0.05V/div～1V/div分5檔，誤差不超過(guò)±3% |
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基極電流或基極源電壓(X) |
0.05V/div,誤差不超過(guò)±3% |
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外接輸入(X軸) |
0.05V/div,誤差不超過(guò)±3% |
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基極電流或基極源電壓(Y) |
0.1V/div,誤差不超過(guò)±3% |
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外接輸入(Y軸) |
0.1V/div,誤差不超過(guò)±3% |
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偏轉(zhuǎn)倍率 |
YB |
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集電極電流范圍（IC) |
10μA/div～ |
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二極管反向漏電流（IR ） |
0.2μA/div～5μA/div分5檔,2μA/div、5μA/div誤差不超過(guò)±3%,1μA/div誤差不超過(guò)±5%,0.5μA/div誤差不超過(guò)±10%,0.2μA/div誤 |
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階梯電流范圍 |
0.2μA/級(jí)～50mA/級(jí) 分17檔,1μA/級(jí)～50mA/級(jí)，誤差不超過(guò)±5%,0.2μA/級(jí)～0.5μA/級(jí)，誤差不超過(guò)±5% |
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階梯電壓范圍 |
0.05μV/級(jí)～1V/級(jí) 分5檔，誤差不超過(guò)±5% |
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串聯(lián)電阻 |
10Ω、10KΩ、0.1MΩ分3檔，誤差不超過(guò)±5%,每簇級(jí)數(shù)4～10邊疆可調(diào) |
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峰值電壓與峰值電流 |
0～5V檔 ,0～5V |
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峰值電壓與峰值電流 |
0～50V檔 ,0～50V |
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峰值電壓與峰值電流 |
0～500V檔, 0～500V |
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峰值電壓與峰值電流 |
0～3KV檔 ,0～3kV 2mA |
