INGUN探針

INGUN探針，測試針，用于測試PCBA的一種探針。表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。目前國外比較有名的生產(chǎn)廠家有：ECT，INGUN， QA ,IDI、Semiprobe 　　探針的材質(zhì)：W，ReW, A+

1.目前主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。

2.A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。

探針分類  探針根據(jù)電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進口產(chǎn)品；B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進口探針產(chǎn)品；C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。 　　

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探針（ICT series Probes) 一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，行業(yè)內(nèi)的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目前應用較多的一種探針． 　　

2.界面探針(Interface Probes) 非標準的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面． 　　

3.微型探針（MicroSeries Probes) 兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm． 　　

4.開關(guān)探針（Switch Probes) 　開關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流． 　　

5.高頻探針（Coaxial Probes) 　用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的． 　　

6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes) 　彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試． 　　

7.高電流探針（High Current Probes) 　探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps.

8.半導體探針 (Semiconductor Probes) 　直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts) 　　一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長． 　　除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

深圳市貴雅科技有限公司

唐（先生）：15361456019

QQ：1044292136

地址： 深圳市寶安區(qū)松崗鎮(zhèn)紅花新區(qū)21棟1樓1號

郵編： 518105

公司淘寶：http://szgy8.taobao.com

公司主頁：http://www.szgy8.com

0755-33895203