1.  OSD X射線探測器具有驚人的計數(shù)率,高達(dá)200000,比普通的 Si-Pin X射線探測器獲取數(shù)據(jù)的能力高10倍。

2. 分辨率大大地提高到了，<155keV.

3. OSD強(qiáng)大的獲取數(shù)據(jù)能力使儀器分析速度極快。

4. Au的檢測下限LOD高達(dá)2ppm, 對貴重金屬礦石的如Au、Pt、Ag、Ru、

Rh、Pd的分析有極佳的效果。

5. 可以測試Mg、Al、Si，具有良好的檢測下限。

6. 元素的檢測下限LOD在OSD狀態(tài)下有極大的提高，普遍提高1~15倍。

7. 在高含量的礦石分析模式MINING中增加了 BEAM2的功能，可分析Mg, Al, Si, P, S, K, Ca等元素。

8. 可選配真空選件, 在真空狀態(tài)下,Mg的LOD可以提高3倍,Al的LOD可以提高2倍,Si, P, S的LOD可提高0.5~2倍

9. 可選配GIS數(shù)據(jù)采集手簿TRIMBLE，數(shù)據(jù)與GPS實現(xiàn)綁，可將儀器測試點的礦化信息通過藍(lán)牙傳到TRIMBLE上,再與TRIMBLE上自動產(chǎn)生的經(jīng)度、緯度、海拔進(jìn)行連接,實現(xiàn)測試信息與GPS同步處理。

10. 數(shù)據(jù)與GPS同步輸出，可在每一個測試結(jié)果中自動附加GPS信息,這些結(jié)果可以被專業(yè)的地球物理分析軟件自動引用。

11. GPS可以實現(xiàn)用戶自定義。

12. 選配GIS數(shù)據(jù)采集手簿TRIMBLE可以很容易實現(xiàn)地圖引用下載。,Explorer測試的每一個點皆可以顯示在屏幕實際地圖中,只要選取屏幕地圖中的點就可以查看分析數(shù)據(jù)與GPS數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)組可在TRIMBLE中進(jìn)行所需要的地質(zhì)礦化分析。